二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #293595578 待售

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 293595578
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC INS 3300蒙版及晶圆检验设备是半导体制造行业的全自动、高精度成像及缺陷审查系统。该设备旨在提供最大的生产力、准确性和可靠性,同时为客户提供更好的产量、吞吐量和质量。机器由电动舞台和电动变焦光学、成像处理器电子和分析工具组成。它旨在为掩模和晶片提供卓越的微观成像,对掩模和晶片表面进行极高分辨率成像。它能够检测和输出各种缺陷大小、形状和位置上的高对比度和低对比度缺陷。该工具利用光学近似校正(OPC)成像技术来成像掩码和晶圆布局特征。这种技术可以精确地对小尺寸小至5微米、高分辨率和低噪声的特征进行成像。该资产还能够进行抄写员线成像,以准确监测过程变化。该模型能够产生高放大倍率(掩模为40倍,晶片为50倍)和低放大倍率(掩模为40倍,晶片为25倍)图像。高放大倍率图像用于缺陷分类,低放大倍率图像用于过程反馈。图像可以多种格式存储,包括TIFF、JPEG和PNG。LEICA INS 3300设备的设计非常方便用户,具有易于使用的工具和直观的界面,使其易于设置和操作。直观的GUI设计使系统更易于使用,并为用户提供了对设备设置和配置的更大控制。VISTEC INS 3300机器旨在为客户提供最高质量的成像和检测功能,同时还提供最高的吞吐量和最高的工作效率。该工具既经济高效又可靠,允许客户减少资本支出,同时保持最高质量的图像输出。INS 3300 Mask&Wafer Inspection Asset凭借其先进的技术、自动化的功能和用户友好的设计,是寻求提高质量、吞吐量和产量的半导体制造商的理想解决方桉。
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