二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9043662 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9043662
晶圆大小: 8"
优质的: 2003
Wafer inspection system, 8"
Hard Disk Drive (HDD) missing
2003 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300是为自上而下或自下而上的检查而设计的多功能面罩和晶圆检测设备。它通过模块化和可扩展性提供了最大的灵活性,使用户能够从基本配置开始,并随着时间的推移添加高级选项以适应不断变化的需求。该系统能够进行各种检查，其最大分辨率为0.25 µm，其全曝光范围为0.8-6.5keV。诸如Depth of Focus Control （DoFC）和90°自动缝合等功能使其非常适合检查地形不均匀或表面具有挑战性的样品。LEICA INS 3300配备了一个多功能级，可容纳两个200 mm或一个300 mm晶片，并提供多晶片映射的自动对准以及两次检查同一晶片的能力。它还可以容纳多种面罩尺寸，带有可调节的可移动面罩台，可以同时容纳正极性面罩和负极性面罩。高端自动化功能和缺陷审查功能为用户提供了识别和分类缺陷的强大而高效的工具。此外，该装置还提供了一种通用和先进的机器，用于测量图样或基板的电气和光学特性。这包括自动化电气测量系统，如数字模式分析（DPA）和数字图像扫描仪（DIS），使用户能够快速捕获和分析电气图像。这些系统也可用于光电测量，通过与多波长光掩模对准器相结合。总体而言，VISTEC INS 3300是一款功能强大、用途广泛、易于使用的掩模和晶圆检测工具。它能够进行各种检查，可以随时适应不断变化的需要。它非常适合寻找一种可靠但成本效益高的资产的实验室,以便对最复杂的模式和底物进行快速而准确的分析。
还没有评论