二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9043674 待售
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LEICA/VISTEC INS 3300是一种掩模和晶片检测设备，设计用于分析半导体掩模和晶片，用于制造产量、缺陷检测和故障分析。它是一个全自动、高速的成像和检查系统,结合了出色的分辨率和高通量,同时确保所有缺陷都正确分类,而不会出现误报。该装置使用一个1300万像素的自动CMOS传感器，该传感器以1倍的视场放大倍率快速捕获掩模/晶片的图像，以便进行深入检查。它还提供多视图检测来识别和分类潜在缺陷。通过自动调整光照水平和曝光时间，机器确保准确和一致的图像捕获和检查结果。该工具能够在透射和背面照射中检查掩模/晶片。此自动照明过程提供一致的光强度和照明角度,从而确保以相同的精度和分辨率检查掩模/晶片上的所有特征。该资产配备了图像工具箱软件，允许数据分析和编程。基于该软件，可以对模型进行校准，以检测各种特征，分析图像的缺陷，并报告结果。该软件还支持数据存档、alpha粒子映射和缺陷分类。Inspect 3300的先进技术使其成为需要系统、统一检查其口罩和晶片的制造商的理想选择。它配备了精密光学、软件和硬件组件，旨在提供最大精度和速度。而且，其先进的成像和检测能力使其成为高需求应用的合适选择。
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