二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9099590 待售
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LEICA/VISTEC INS 3300是为半导体工业设计的最先进的掩模和晶圆检测设备。该系统结合了先进的技术、能力和性能的独特组合，提供了高度可靠的掩模和晶圆检测结果。该单位先进的检测技术可以检测到约0.20微米或更小的缺陷，使其成为最精确的面罩和晶圆检测系统之一。LEICA INS 3300机器能够测试一系列不同的基材，包括石英、玻璃、硅和其他大多数半导体材料。其高精度光学工具提供卓越的图像质量和分辨率，使其适合极小的特征尺寸。该资产配置了高分辨率12兆像素CCD传感器和自动聚焦,有助于提高成像性能。该模型采用高速方式的自动化阶段,扫描速率高达每秒100 × 100 μ米。它有一个集成的晶圆级，方便可靠的晶圆处理和对准。设备还配备了可配置不同晶圆尺寸和曝光的大功率照明系统。该设备由基于Linux的操作系统和功能强大的奔腾处理器提供动力,为数据处理和分析提供足够的性能。该机具有直观的用户界面和简化操作和数据分析的高级软件。GUI采用彩色编码,可快速高效地查看结果。VISTEC INS 3300包括临界尺寸（CD）工具、边缘检测（ED）工具、OPC工具和缺陷检测等高级检查工具。它能够检测各种类型的缺陷，如颗粒、划痕、凹坑以及缺失的金属或氧化物层。该工具还提供了广泛的纠错选项和精密的算法，可以准确定位和标记缺陷。该资产被设计为在恶劣的工作条件下高度可靠和耐用，同时提供卓越的准确性、速度和可重复性。该车型的环保设计也有助于降低功耗。INS 3300是一款功能强大、可靠的掩模和晶圆检测设备，非常适合任何半导体制造工艺。
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