二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9192641 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是为半导体研究和制造而设计的高精度、自动化的掩模和晶圆检测设备。它能够处理从8英寸（20.5厘米）到12英寸（30.5厘米）的掩模尺寸,提供光学和X射线检查。光学检查采用高度灵敏的科学级CCD相机和可互换镜头系统，自动检测划痕、特定部位缺陷等缺陷。LEICA单元注重最高精度水平，同时使用动态视频自动测量（DVAM）技术和先进的计算机软件来确保检测和测量的准确性。对于X射线检查,LEICA INS 3300具有最先进的微焦点X射线源和可变的斑点大小,可用于特异性缺陷成像。此外，该机能够检测硅片的层间缺陷和埋藏缺陷，非常适合先进的工艺。使其成为顶级检测工具的其他功能包括全高清液晶显示器、触摸屏控制面板和高级晶圆处理资产。高端检测模型还具有自动对齐校正尖端集，用于对齐多种图桉。数据可以通过USB和软件接口快速传输，数据也可以下载到计算机上进行进一步分析。最后,VISTEC INS 3300可定制的用户界面、自我诊断程序和自动警报使其成为简化检查过程的用户友好设备。INS 3300凭借其可靠的性能、全面的缺陷检测、高精度的精确度，是半导体行业应用的高效、经济高效的掩模和晶圆检测系统。