二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9196670 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片检测设备是一种先进的检测系统，旨在检测集成电路掩模和晶片的缺陷。该设备能够实时显示生产线上的缺陷，同时协助最终用户纠正根源。利用最新的模式和拓扑识别技术,这台机器能够检测到各种结构几何中的各种缺陷,从而确保产品的高质量。LEICA INS 3300工具拥有300万像素高分辨率相机和300 mm镜头。这种强大的成像解决方桉与复杂的图像处理算法相结合,使资产能够检测到最复杂模式中的微小缺陷。对摄像机传感器和图像处理算法进行了优化，以实现对表面拓扑条件的超精确评估，为用户提供了无与伦比的分析细节层次。模型的高级模式识别功能使其能够快速识别任何缺失或错位的特征,或任何物理缺陷,如划痕、颗粒、蚀刻坑等。该设备能够以4,000像素/秒的速度进行扫描,提供高吞吐量和快速周转时间。除了提供快速缺陷检测，VISTEC INS 3300掩模晶圆检测系统直观易用。设备的用户界面是为方便导航而设计的，使用户能够完全控制检查设置和过程。用户界面还包括功能强大的统计功能,使用户能够快速高效地执行复杂的分析,以识别与生产或流程相关的问题。INS 3300机设计了集成的反馈控制系统，使其能够根据传入信号自动调整。这样可以确保设备继续可靠地、准确地检测到轻微的缺陷,而无需手动调整。最后,该工具包括一组功能强大的安全功能和工具,用于保护正在处理的敏感数据。受高级访问控制、数据加密和防火墙网络连接的保护,LEICA/VISTEC INS 3300资产中的数据安全性是一流的。总之,LEICA INS 3300掩模和晶圆检测模型是一种先进但用户友好的缺陷检测设备,能够准确、可靠、安全地有效检测各种缺陷。