二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9200027 待售

LEICA/VISTEC INS 3300面罩和晶片检查设备是用于检查和表征照片面罩和晶片的前沿专用检查系统。该单元的设计目的是利用自动ADC（检查和测量算法）以及先进的平面外测量技术。该机具有独特的自动掩模检查过程,可进行平面内膜厚度分析,以及对整体掩模特性性能的过程中检查。该工具配置有光学组件、示例级和大功率CCD摄像机。自动检查员配备激光定位器和可移动头部。扫描和测量功能允许自动对齐,并具有高级故障查找过程,以提高准确性和更高的吞吐量。该资产还可以为各种尺寸的晶圆和相关材料提供晶圆平坦度和缺陷特性的详细映射。晶圆成像由光学和X射线显微镜相结合支持，以接近原子分辨率获取图像。映射分辨率也足以进行详细分析，从而可以确定晶圆上的表面地形和缺陷位置。在工艺控制方面，LEICA INS 3300采用专业级反馈控制来管理晶片和材料的温度和功率生产。这样可以确保获得最佳图像,同时提供晶圆上特征交互的精确地形级别。该模型是按照最严格的质量标准制造的，并确保达到最高精度的样品。此外,它还可以处理要求最苛刻的检查和测试环境,具有与外部系统通信的ASCII/RS232接口,以及用于增强设备组件保护的坚固的环境围栏。总体而言，VISTEC INS 3300蒙版和晶片检查系统是一个高级设备，用于对照片蒙版和晶片进行高级检查和鉴定。它结合了自动检查、测量和反馈控制功能,为高精度成像结果创建了可靠高效的机器。