二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9200028 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片检验设备是检测和评估包括半导体晶片、掩模和平板在内的各种基板缺陷的强大而可靠的工具。它具有先进的光学亚微米分辨率以及自动映射和分析功能,非常适合检测极小的缺陷和低对比度区域,否则很难检测。该系统专为高通量生产环境而设计，每小时可处理数百个样品。它具有全面的自动检查任务,包括自动缺陷表征、自动模式识别和自动缺陷检测。设备的高分辨率成像功能使用户能够检查所检查基板上的所有设备和互连功能。机器由几个组件组成。"掩码排列工具"使用户能够设置检查以识别掩码上的结构,以便与相应的图像进行比较。Workbench是用于管理所有检查任务的控制界面。自动扫描定位器可在视场内精确、高速地移动掩码。该工具的检查技术从多种"白光"照明技术到红外，以及专门的照明模式。该资产还配备了专门的算法，能够自动检测模具和焊球缺陷。此外，该模型可配置为对堆迭模具进行层压检测。该设备设计用于处理各种基板，从非半导体材料到超灵敏内置电阻。这种多功能性使得该系统适用于生物医学、纳米技术、航空航天、光学等行业的广泛应用。检查结果显示在设备的用户界面上,用户界面显示结果的直观和交互式图形表示。这包括易于发布的缺陷图和提供有关测试参数和缺陷结果的详细信息的自动缺陷报告功能。LEICA INS 3300 Mask&Wafer Inspection machine是一种先进可靠的缺陷检测和分析工具。它的自动化功能加上高分辨率成像功能，使用户能够检测到各种基板中非常小的缺陷和低对比度区域。此外,该工具的用户界面提供了缺陷的直观和交互式图形表示,使缺陷分析和报告成为一项简单而简化的任务。