二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9225703 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是利用高分辨率成像检测硒基半导体元件缺陷的掩模和晶圆检测设备。凭借其先进的光学能力，该系统能够达到0.3 μ米或以下的分辨率，使其成为几乎任何需要高分辨率成像的应用的理想选择。该单元可以检测到各种类型的缺陷，从划痕和点蚀到微米级分辨率，用于小或难以检查特征。此外,用户可以从各种检查参数中进行选择,包括电压、对比度、亮度、缩放和聚焦,以获得准确的结果。LEICA INS 3300旨在简化掩模和晶圆检测的过程。它利用高级成像和处理系统,在效率和准确性方面提供强大的功能。机器的主要强度是它的快速扫描速度，可以达到10KHz。这样可以确保即使是复杂的目标也能快速扫描。它还具有一组专门的成像功能,如线路替换技术（LRT）和边缘检测,可以检测最小细节并提供清晰的成像。此外,还通过"自动特征查找"（AFF）对工具进行了精确设计。这允许通过自动检测特定特征来精确检测缺陷。此外,该资产还有一个全面的测量分析（MA）支持,该分析旨在消除在其他系统中经常观察到的错误信号和误报。VISTEC INS 3300是半导体掩模和晶圆检验的宝贵工具。它易于配置,即使在要求最苛刻的应用程序中也能提供卓越的性能。凭借先进的光学设备、强大的成像和处理能力以及全面的缺陷检测功能,该模型非常适合需要最高质量保证级别的客户。