二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9242162 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是一种先进的掩模和晶片检测设备，旨在识别和分析平板显示器、半导体晶片、光掩模和其他类似基板上的表面缺陷。该系统利用强大的成像光学和自动缺陷检测算法，对缺陷进行精确、准确的检测、分类和量化，直至亚微米级。该设备采用符合人体工程学的设计,使实验室技术人员能够高效、舒适地操作。其先进的光学机器能够通过透射和反射光产生高分辨率基板的串联图像。它可以配置为单轴或多轴扫描,以便能够检查大型基板。该工具还包括一个可靠的固件包,可提供直观的图形用户界面、自动功能对齐、自动缺陷检测以及根据行业标准缺陷度量对结果进行实时分析。LEICA INS 3300还具有多种精确、可重复、可靠的成像、排序和分析参数。这些参数包括照明选择、曝光时序、图像阈值、缺陷大小限制、平均对比度、扩展范围、粒径限制、背景减法、粒子包涵参数和斑点检测。资产的多模式功能集使其既适合工业应用，又适合实验室使用。模型的缺陷表征结果可以报告为绝对值和相对于"完美"样本的测量值或估计值。这使得这种设备非常适合检查由于制造过程而在尺寸和形状上具有变化特征的样品。此外，该系统还提供多种输出格式，能够与其他系统使用的数据格式兼容，并便于与其他单元组件集成。这为生成综合报告和在不同基材之间创建准确的比较测量提供了一个简单的过程。总之，VISTEC INS 3300是一种先进的掩模和晶片检测机，为自动缺陷检测、分类和量化提供了必要的精度和准确性。该工具提供全面的输出功能、用户友好的操作以及与行业标准缺陷指标兼容的结果。它是工业应用和实验室使用的理想工具。