二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9244341 待售

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 9244341
Wafer inspection system With single port.
LEICA/VISTEC INS 3300是一款功能强大、精密的掩模和晶圆检测设备,非常适合那些寻求更高效、更全面的方法来分析其半导体工艺和产品质量的人。该系统使用户能够快速、准确和高效地监视、检查和比较设备、掩码、电路和晶片的组件和过程。该单元使用彩色共聚焦显微镜和扫描标准,如OPC(光学光刻工艺控制)和RET(分辨率增强技术),以便创建可用于比较和分析结果的高度优化图像。图像高度精确,考虑到表面不均匀性、粒子的存在和标记密度。这样可以确保结果可靠和可重复,从而实现高效的质量监测和控制。LEICA INS 3300还具有广泛的自动和引导检查和测量功能。这使用户能够快速准确地分析数据和结果,而无需手动输入或解释。此外,这些结果是完全准确和可重复的,由于光源自由激光扫描过程。此外,该机器还具有集成的软件套件,允许将图像和数据从机器传输到PC,以便进行进一步的分析和操作。这使工程师和科学家能够轻松分析和比较结果,而无需手动输入或解释数据。总之,VISTEC INS 3300非常适合那些寻求强大、准确和可靠的方法来分析其半导体工艺或产品数据的用户。该工具使用户能够快速准确地分析图像,并比较结果,以确保质量控制和改进方面的帮助。此外,它的自动化和引导检查和测量能力,加上其集成的软件套件,使其成为分析和检查的理想工具。
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