二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9266076 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是一款高性能的掩模和晶圆检测设备，由LEICA Microsystems和VISTEC Semiconductor systems GmbH开发。它旨在确保检测、检查和测量集成电路的所有特性（如缺陷大小和类型）过程中的完全精度和一致性,同时确保低周期时间和成本。LEICA INS 3300以其高数值光圈镜头提供了前沿性能和精确度,结合了0.65NA和0.45NA目标以实现卓越的图像分辨率和可靠的缺陷检测。全画幅图像尺寸为21 x 21mm,可全面覆盖IC,提供更大的视野和更高的工作效率。该系统具有增强的自动光学控制和自动对焦功能,以确保可靠的结果,无需进行昂贵的手动调整,并提高测量的准确性。该单元还支持不同的工作模式，如低光对比度和亮度对比度，以确保晶体管栅极开口和其他微观缺陷的最佳检测。该机可进一步用于检测、分析和报告结构缺陷，如线宽和间距变化，以及颗粒缺陷和残留物，给出晶圆的完整画面。高级EasyPrint功能允许将检查图像快速准确地打印到硬介质或软介质。该工具还具有一系列连接选项,如以太网、USB和GPIB,以便于与其他仪器集成。VISTEC INS 3300是经济高效可靠的掩模和晶圆检测的理想解决方桉。它为各种应用提供了卓越的速度和准确性的组合,使其成为寻求可靠且经济高效的晶圆检测解决方桉的半导体制造商的理想选择。