二手 LEICA / VISTEC LDS 3300C #9285848 待售

LEICA/VISTEC LDS 3300C是一种用于半导体和微电子制造过程的掩模和晶圆检测设备。利用最新的3D成像和自动缺陷检测算法,LEICA LDS 3300C可以在分子水平上快速准确地检测掩模和晶片上的缺陷。VISTEC LDS3300C可以在一纳米范围内测量，检测小至0.06 µm的缺陷。除缺陷检测外，该系统还能够准确测量掩模和晶片的临界尺寸以及材料对电流的电阻。LDS 3300C配备了一个特殊的高分辨率相机，能够以高达500,000倍的放大倍率捕捉口罩和晶片的图像。通过将相机与图像处理软件和强大的3D成像算法相结合，该设备能够精确检测最小缺陷。它还能够测量较小的区域，如接触垫等，并且可以进行高精度的3D表面测量。该机设计易于操作和维护。它具有直观的用户界面、可定制的设置和菜单驱动的操作工具。LEICA/VISTEC LDS3300C还配备了自动校准资产，可确保模型无论在何种条件或环境下继续准确、正确地运行。LEICA LDS3300C是任何面罩和晶圆检测要求的绝佳选择。它具有很高的准确性、可靠性和易于使用。它是生产和测试集成电路的强大工具，提供比以往任何时候都更高的准确性和质量保证。