二手 LEICA / VISTEC LWS 3000 CFI #9155206 待售

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ID: 9155206
Wafer measurement system 1993 vintage.
LEICA/VISTEC LWS 3000 CFI是一种最先进的掩模和晶圆检测设备。它为集成电路(IC)生产掩模的检查提供了全面的能力,包括常用的光刻和电子束成像技术。利用先进的检验和计量技术,LEICA LWS 3000 CFI提供了对掩模模式和缺陷的实时、深入分析。这包括全面的缺陷分类,利用一种复杂的特征识别技术来捕获蒙版图桉的细线和形状中最小的变化。高分辨率成像是通过自动化光学系统提供的,而电子束成像是通过双束离子源技术提供的。可以进行精确的测量,并将其对齐到1.0 um以内,以确保结果的准确性和可重复性。这种精密计量工具还具有一个4英寸的原始空间镜像相机,以确保所有的测量都从相同的精确位置拍摄。VISTEC LWS 3000 CFI还具有多功能自动化功能,使其能够从生产车间到实验室高效工作。这包括一个强大的可视化和管理单元,提供检查结果的可追踪性。自动化机器Logbook将所有数据存储在基于云的安全工具中,以便将来进行访问和分析。资产符合现代口罩生产的要求,给用户一个彻底检验、验证的口罩的信心。它非常适合确保从头到尾的质量控制,即使在要求很高的口罩生产环境中也能提供可靠的性能和生产率。最后,LWS 3000 CFI支持生产口罩的可靠性能和自动检查。其精确的测量和特征识别功能可实现快速、经济高效的生产,而其自动化功能可最大程度地减少用户的工作量并缩短处理时间。高度精确的测量提供了无与伦比的准确性和可重复性,使LEICA/VISTEC LWS 3000 CFI成为口罩生产和检查的理想选择。
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