二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9024068 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一种主要用于半导体工业的掩模和晶圆检验设备。它旨在以速度、精度、灵活性和操作员便利性的无与伦比的组合检查一系列半导体掩模和晶片。LEICA MIS 200利用先进的成像和测量技术快速获取图像，将其比作设定标准，并迅速采取纠正措施，使得晶圆和芯片的产量更高。该系统通过同时检查表面及其背面轮廓,最大限度地提高了工艺保证和产品性能。这个功能强大的工具彻底测量不同的厚度和CD值到0.25微米的分辨率。VISTEC MIS 200装有一个激光干涉单元，该单元集成了先进的视觉传感器，用户可以在其中设置WL和成像功能的参数，以获得最佳性能。MIS 200机器能够进行四点检测和晶片测序，以确保更一致的晶片形状和精度。最多有8个位点，该工具可以同时对齐并分别测量基板的四个不同区域。这四个光学元件精确对齐和校准,确保了一流的性能和可重复性。此外，该资产还能够对500毫米以下的材料进行远距离检查，并具有180毫米以下的大视野，从而可以灵活地检查各种尺寸的基板。为了便于使用,LEICA/VISTEC MIS 200具有用户友好的GUI和易于导航的直观软件。车型配备了大型液晶多点触控显示面板，使得设置参数的过程更加高效。此外,设备还可以通过USB、VGA和以太网连接到其他设备和设备。总之，LEICA MIS 200是一种高性能的掩模晶圆检测系统，是半导体工业的理想解决方桉。凭借其最先进的成像和测量技术、直观的用户界面、准确性和灵活性,该设备为半导体制造商提供了无与伦比的屏蔽和晶片检查。