二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9238023 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一种用于制造微电子器件的掩模和晶圆检测设备。它采用数字显微镜，具有高分辨率彩色液晶显示屏，先进的高分辨率成像，以及用于自动检测蒙版和晶片缺陷的强大算法。该系统提供2D和3D模式的图像捕获和操作，从而能够对微电子元件进行全面分析。通过将此单元与LeitzLEICA专有软件的高级算法配对,用户可以准确快速地检测给定设备的微结构中的国外和国内故障。该机还提供了广阔的观察领域，用于查看大型光掩模或晶圆区域，从而更容易与产品标准进行比较。使用高分辨率数字图像与强大的软件算法相结合,可以进行径向和区域扫描,同时比较数字图像和设计为检查（DFI）数据。这使用户能够准确识别和定量测量可能存在的任何缺陷。该工具包括一个直观的图形用户界面，允许在各种模式、仪表和图像捕获参数之间进行简单选择。它提供了一个易于使用的设置菜单,用户可以在其中选择自动分析和数据收集所需的参数。它还包括一种自动化的生产模式，用于快速、高效地分析大型光掩模和晶圆区域。资产的性能特点包括：改进数字聚焦能力；高速成像；多个视口；并放大到2500倍。数字图像捕获在亮场和暗场成像模式下都能很好地工作。该模型可以执行自动阴影和二进制边缘检测、自动材料存在测试、寄存器控制测试和间隙分析。综上所述，LEICA MIS 200是一款功能强大、直观的高分辨率掩模晶片检测设备，具有先进的特点，简化了检测过程，对微电子元件缺陷进行了准确检测和定量分析。该系统适用于自动化生产应用程序以及手动检查方桉。