二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9262659 待售

LEICA/VISTEC MIS 200掩模和晶圆检测设备是一种先进的技术，结合了光学成像系统和先进的3D成像算法，为集成电路（IC）基板和掩模在IC制造过程中的检测提供了全面的解决方桉。该系统实现了广泛的高分辨率检查操作，包括对IC测试车的光学检查、口罩组装和电气验证。模块化单元用途广泛,可以完全定制以满足任何生产要求。LEICA MIS 200机器采用高效设计,占地面积小,安装成本低。该工具配备了强大的计算机处理器和高速内存。计算机资产连接到数字信号处理器（DSP）以提高性能。它还具有热插拔硬盘,便于数据存储和检索。有光学显微镜和广域显微镜，用于对IC测试车辆和口罩进行详细检查。该模型配备了一系列用于检测集成电路的3D成像算法。这些算法可以分析IC的地形，检测开路、短路、桥接等缺陷，并为IC提供准确的视觉表示。这有助于确保可靠性、准确性和法规遵从性。这些算法还有助于快速准确地检测和分类缺陷。VISTEC MIS 200还包括一系列高级度量和诊断工具。这些功能强大的度量分析并显示不同测量的结果,使技术人员能够识别电路或掩码的任何重大问题。该设备与行业标准协议和设备兼容,能够连接到自动化测试设备、光学系统和其他硬件。MIS 200掩模和晶圆检测系统是任何IC制造应用的理想解决方桉。它的高级成像算法有助于保持任何IC的高精度和可靠性,其定制的配置和强大的工具使技术人员能够快速轻松地诊断任何潜在缺陷。