二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9266272 待售

LEICA/VISTEC MIS 200掩模和晶圆检测设备是一种高性能的自动光学检测系统，旨在检测和分析半导体器件结构中的缺陷。该装置利用最新的创新成像光学技术和精确运动控制，在任何工艺几何上提供最佳的缺陷检测和精度。LEICA MIS 200通过动态图像处理提供了对特征和模式识别的深入分析。该机器采用模块化设计,可提供多种扩展选项,包括增强的成像系统、光束操作系统、自动计量和用于高级缺陷映射的外围设备。它还包括一个提供照明波长、放大倍率和其他工具设置选择的自定义软件包。检测设备包括专利检测阶段，提供精确的运动控制和高精度的缺陷分离能力。该模型具有较大的视场,可以在单个视场中捕获多个设备,从而最大化吞吐量并最小化操作员时间。它利用高速像素移位来最小化运动模煳,从而能够准确检测整个视场中的关键缺陷。VISTEC MIS 200包括一个先进的照明设备，提供在缺陷检测的极限能力。结合独特的动态图像处理,提供了卓越的缺陷表征和分类.它利用渐进强度扫描，能够检测模式缺陷以及随机缺陷，从而更好地了解设备特性。该系统还提供了一个强大的缺陷分类引擎，可以自动对缺陷进行分组和分类，以便进一步审查和分析。此自动化过程可提高缺陷可见性,并提高设备吞吐量和准确性。此外，直观的用户界面提供了程序设置和参数的轻松访问和修改。LEICA检测机非常适合半导体器件制造商，从小型制造实验室到大批量生产设置。该工具在手动和自动化过程中确保可靠的操作和更高的准确性。利用先进的成像和精确的运动控制，为检测和分析器件结构缺陷提供了有效的解决方桉。