二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9287263 待售
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LEICA/VISTEC MIS 200是来自LEICA系列检测工具的掩模和晶圆检测设备。该系统提供自动检查、光学可变微观成像和缺陷移动窗口检查的组合，以快速识别掩模和晶片中的缺陷。该设备提供高分辨率、多个放大倍数和快速重建时间,使用户能够快速准确识别缺陷和潜在问题。该机器采用不相干闪光灯照明，具有独特的光片设计，可确保整个掩模或晶片均匀照明。这样可以确保所有点均匀且照明均匀,并提供高精度和高精度的结果。LEICA MIS 200还允许实时视频检查、线路扫描、背面计量等多种多维、多层次的成像模式。通过利用这些特征，用户可以快速分析蒙版或晶片上的复杂特征，如接触孔、线条定义、线条宽度以及线条之间的空格。VISTEC MIS 200的自动化分析工具允许对缺陷进行自动识别和分类,用户可以从中了解其可能的原因。此外,该工具还能够自动测量缺陷的线宽和间距、深度和圆度,从而获得更准确的结果。此外，资产可以对掩模和晶圆进行详细的比较，以确定两者之间的任何差异。最后，该模型还提供了一个强大的缺陷诊断应用，可以检测和分类模式和异常。这是一个非常有用的工具,因为它可以帮助用户识别可能干扰生产过程的结构缺陷和任何其他问题。此外，MIS 200还提供了光谱光学计量学设备，可以测量线定义和掩模或晶圆光学特性的波动等特征。总体而言,LEICA/VISTEC MIS 200是一个功能极其强大的掩码和晶片检查系统,用户可以快速准确地分析掩码和晶片的缺陷。该单元提供了自动化检测、光学可变微观成像和缺陷移动窗口检测的组合，以及一系列多维和多级成像模式和强大的缺陷诊断应用。因此，该机器对于快速准确地查明口罩和晶片上的缺陷和潜在问题极为有用。
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