二手 LEITZ MM6 #9150088 待售

LEITZ MM6 Mask&Wafer Inspection设备是一种自动晶片缺陷补丁检查系统,可对各种晶片尺寸的各种类型的缺陷进行高速、深入的检查。该单元使用模式识别技术检测设计和过程相关缺陷。它提供了高度准确、快速和可靠的缺陷检测和分类。该机器提供硬件和软件模块的全面集成,这些模块协同工作,为全面的晶圆缺陷检测和校正提供自动化解决方桉。它包括掩码检查子系统、模式识别子系统、缺陷分类子系统、缺陷定位子系统和掩码数据归档子系统等各种子系统。掩码检查子系统允许用户从各种扫描模式中进行选择,以获得最佳的修补程序选择和缺陷确认。它利用线扫描技术实现了更高的精度。扫描模式包括单扫描、多扫描、对比扫描、段扫描和反向扫描。模式识别子系统使用了光学和物理模式识别、绝缘子上硅（SOI）拟合算法、最先进的模板匹配算法等多种方法来识别缺陷。它能够识别各种缺陷,包括粗糙度、污染、边缘粗糙度等。缺陷分类子系统是一种先进的技术,它为每个缺陷分配一个分类编号。这使用户能够快速准确地识别缺陷的类型和大小。分类代码包含指示缺陷严重程度的数字。缺陷定位子系统用于准确识别和监视缺陷位置。该工具能够以高分辨率检测极小的缺陷。掩码数据归档子系统允许用户存储掩码数据以供将来参考。它能够存档多达10,000个掩码模式。MM6 Mask&Wafer Inspection Asset是一种功能强大的工具,可帮助确保晶圆检查和缺陷校正的准确性和效率。它为有效的缺陷补丁检查和纠正提供了全面、自动化的解决方桉。该模型提供可靠和高速的操作,并提供卓越的效果。