二手 MATSUSHITA PSX307-M #9394953 待售

MATSUSHITA PSX307-M Mask&Wafer Inspection Equipment是一种先进、高性能的半导体Mask和大尺寸晶片缺陷检测系统。该装置利用先进的光学双金字塔偏转测量技术，精确测量每个半导体器件的形状和表面，从而能够检测关键缺陷及其精确位置。机载高分辨率相机与机器集成在一起,用于捕获被检查的晶片或掩模的图像,而卓越的成像能力甚至可以检查最精细的细节。该工具还利用先进的三维光学传感技术（3D&OS）进行全面的缺陷发现和测量。利用这项先进的资产，可以检测晶圆和掩模上的小缺陷，以及精确测量表面形状、高度和其他物理特性。这些数据可用于测量设备的大小和形状,以确保精确的质量控制。PSX307-M配有内置的自动对准功能,与3D&OS模型一致,可以精确检查缺陷。这种自动对准功能允许检测微小缺陷，即使在大型晶片中也是如此。此外，该设备还配备了先进的图像分析工具（MATMESH），可实时消除缺陷，进行高效缺陷检测。MATSUSHITA PSX307-M还具有多种用户友好的菜单和功能,可以轻松执行操作。该系统配备了手动操作模式以及自动操作模式，使操作能够根据用户需求量身定制。此外，各种编程语言的支持允许用户针对特定需求开发自定义检查程序。综上所述，PSX307-M Mask&Wafer Inspection Unit是一种先进的高性能机器，用于半导体Mask和大尺寸Wafer的缺陷检测。该工具利用先进的光学和三维传感技术，能够高精度地检测微小缺陷，而其内置的自动对准和图像分析功能有助于进一步提高操作效率。MATSUSHITA PSX307-M具有多种用户友好的菜单和功能,是自动掩模和晶圆检测的绝佳选择。