二手 MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9124645 待售

MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR
ID: 9124645
晶圆大小: 8"
Wafer inspection system, 8".
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR是一种掩模和晶片检测设备,它从一个易于使用的平台提供先进的无损晶片和掩模检测功能。该系统旨在对成像设备进行高效可靠的表征,包括复杂的彩色滤光片阵列、透明的导电氧化物和多层背板。DDR-300 NIR利用高清直接成像和斑点成像算法提供准确可靠的性能。该平台配备了高分辨率光电子、UV-Vis-NIR探测器和具有高速专有数据处理能力的高速相机。该单元还具有多维显微镜,能够快速粗糙和精细的聚焦扫描。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR凭借其先进的强度特性,能够可靠地检测和测量晶圆和掩模缺陷,使用户能够快速识别材料上可靠的模具区域。同时,该机先进的芯片组计算能力使其成为监控掩模和晶圆制造过程的理想选择。通过其先进的软件算法,DDR-300 NIR能够更好地检测缺陷,从而提高精度和效率。它还拥有一个用于精确绘制晶圆和掩模轮廓的弱光成像工具,以及一个用于对图样黄色材料和复杂底板结构进行详细检查和制图的高动态范围成像资产。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR也易于设置,并且需要最少的维护,因此非常适合繁忙的制造和研究设施。此外,还可以将平台与客户现有的测量或自动化设备集成在一起,以便于在整个流程链中收集数据。DDR-300 NIR具有先进的特点和可靠的性能,是精确晶片和掩模检测的理想工具。
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