二手 MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9180196 待售

ID: 9180196
SWIR Inspection system, 12" Defect detection Single cassette 8” Wafer loader / Unloader with (4) axis robot Pre-aligner Wafer cassette mapping Under / Over OCR cameras Objectives: 5x, 10x, 20x, 50x camera sensor In-GaAs: 900nm - 1700nm sensitivity inspection Analysis: Bonded wafer alignment Die alignment (flip-chip or hybridization) Subsurface, defect visualization, detection Characterization: MEMS Device Inspection and metrology: 3D Stacking Process development and control: Integrated CD / Dimensional metrology Application-specific customization software: Semi standard S2/S8.
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR是一种面膜和晶片检查设备,可自动检查晶片和面膜。它采用最先进的系统设计,针对生产应用进行了优化。DDR-300 NIR的心脏是一个先进的高速相机,记录通过晶圆或掩模的红外光。这个先进的成像单元快速扫描设备上的图样,然后将其与已知的图样进行比较,以检测图样结构或特征中的异常。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR可以检查晶片和掩模。通过晶片检查,机器对晶片的表面均匀性和结构进行非接触式检查。在面罩检查中,该工具利用其红外受体捕获并逐层比较图样与设计的原始图样,有效识别差异。DDR-300 NIR具有几个附加功能来优化缺陷检测。资产利用先进的算法和图像处理技术,准确检测和区分几乎不可察觉的缺陷,减少检查时间,提供更高精度的结果。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR支持多种晶圆摄影格式,可以自动检测和调整所需的参数。图像采集过程快速高效,生产周期快速可靠。NIR上DDR-300用户友好界面包括直观的触摸菜单导航和自定义可以快速设置的命令。该模型还在其SD存储卡上自动保存测试数据和测量图像,从而可以快速检索数据以进行审查和分析。该设备还具有I/O主板和液晶触摸屏,允许系统与客户端之间快速通信,以便进行快速现场更新。MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR Mask&Wafer Inspection Unit设计用于快速、可靠和经济高效的过程控制。该机符合所有行业安全和质量标准,为生产线质量控制提供了高效解决方桉。凭借其先进的成像功能、精确的缺陷检测、直观的用户界面以及广泛支持的晶圆摄影格式,DDR-300 NIR是任何生产线必不可少的工具。
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