二手 MCBAIN SYSTEMS Z III #293762009 待售

MCBAIN SYSTEMS Z III是一种自动化的掩模和晶圆检测设备,旨在为客户提供可靠、准确的集成电路高精度测量解决方桉。Z III系统是围绕一个定制设计的基于CCD的检查头构建的,允许对晶圆和掩模的隔离几何形状、特征和过程进行高精度测量。该单元的设计考虑了与晶体管、导体和多晶硅特征的更复杂几何形状相关的挑战。MCBAIN SYSTEMS Z III提供了广泛的绝对和相对测量功能,用于评估特征大小、图桉形状、线宽、间距和其他特征。该机器被设计为高效、准确，即使在传统检验方法失败的应用中也是如此。Z III工具采用最新的CCD技术,在一次操作中检查晶片或掩模的每个模具。资产在10 x 10 cm的最大面积内测量晶圆或掩模。该模型还利用特殊算法进行步长和窗口扫描。这样可以最大程度地识别其他方面难以检测到的圆形特征。这也提供了精确和精确的测量，即使在更精细的分辨率。MCBAIN SYSTEMS Z III包含多种自订演算法，允许使用者调整设备以优化性能。这包括为了准确识别边缘和缺陷信息而抑制背景信息的智能滤波器算法。此特征在评估边时特别有用,因为它有助于提高微处理缺陷的精度水平。使用彩色监视器可视化系统,为用户提供直观、直观的界面。监视器显示组织表中每个芯片的所有测量值。这使用户能够快速准确地评估目标参数。Z III单元还使用户能够存储已检查晶片和掩码的图像以及评估所需的相关值和标准。总之，该机集成了一系列先进技术，为晶圆和掩模测量提供了强大可靠的检测工具。它小巧易用,使客户能够准确、快速地检查其设备。此外,MCBAIN SYSTEMS Z III还为用户提供了一套全面的工具来评估他们的错误或缺陷过程。