二手 MCBAIN Z-Scope #9276209 待售

MCBAIN Z-Scope是一种先进的掩模和晶圆检测系统，旨在满足半导体行业的严格要求。其先进的能力包括自动晶圆和掩模检查，视觉检查和高度测量，以及对显微镜参数的完全控制，包括焦点和照明器类型。Z-Scope具有独特的组合：高速电动X-Y-Z级、带有可调变焦镜头的高分辨率CCD（电荷耦合设备）相机、高度可靠的集成硬件和软件、大型13英寸液晶触摸屏显示器和专有软件套件。电动级允许显微镜通过掩模或晶片快速准确地移动。高精度CCD相机和可调变焦镜头，使高分辨率视图的设备被调查。集成的硬件和软件允许用户精确控制显微镜的参数，为用户提供检测面罩或晶片上极小的差异或缺陷区域的能力。大型13英寸液晶触摸屏显示器允许对正在调查的设备进行大视图。专有软件套件允许各种测量和分析功能,包括数据的完全可视化、数据集比较和直观的用户界面。MCBAIN Z-Scope在晶圆和掩模检查方面提供了可靠和准确的结果,并提供了易于使用和直观的软件套件。系统的可靠和高性能功能使用户能够快速准确地发现缺陷或差异,从而提高生产时间并提高总体吞吐量。它能够非常精确地检查晶片和口罩，确保了产品质量的保持。