二手 METRICON 2010/M #293767526 待售

METRICON 2010/M是Sematec GmbH为半导体制造行业开发的高度先进的掩模和晶圆检测设备。它是一个可任务配置的微观、宏观和自动光学检查（AOI）的集成系统，能够测量和报告半导体掩模、晶片和其他基板的质量。这种多用途设备利用了一种功能强大的光学机器,该机器由不同的变焦镜头组成,配置为提供查看和量化掩模和晶片缺陷所需的许多不同放大倍数。光学工具进一步增加了一套模式识别算法，加上拼贴、缝合和聚焦算法，以覆盖整个检查领域。先进的图像端点技术使资产能够准确识别图像中缺陷和非缺陷的边界。该模型采用直观的图形用户界面设计，允许方便的检查配置，创建检查工作流程，实时监控检查过程。集成缺陷数据库还允许对缺陷进行自动分类,从而节省时间和手动对缺陷进行分类。METRICON 2010/M非常可靠，能够检测微米级半径中的最小缺陷。设备也很快，能够在不到30分钟的时间内扫描超过10,000个12英寸晶片，提供一致的过程控制。METRICON 2010/M是一种高精度、经济高效的掩模和晶圆检测系统，满足了半导体器件制造商最严格的要求。它旨在在生产环境中提供可靠和一致的结果,使制造商对其产品的质量有最大的信心。