二手 METRICON 2010 #9383448 待售

METRICON 2010是一种掩模和晶圆检测设备，常用于半导体生产、计量和缺陷分析。该系统能够使用独特的折射倾斜检测技术对直径200、300和450毫米的晶片等大型基材进行检查，从而使其能够同时覆盖整个晶片。检查单元包括一个集成的矩阵照明模块，可提供整个视野的照明均匀性。这使机器能够以高灵敏度和高质量检测缺陷。检查工具由高分辨率相机、光源和光学器件以及模式识别软件组成。模式识别软件允许检查资产准确识别和分类与模式设计相关的缺陷，而不是仅仅专注于缺陷本地化。软件还提供自动模式匹配以及手动扫描选项。2010还包括一个全面的图像处理包,可以将几何或缺陷区域与背景隔离。这使模型能够分析样品上的特定区域并准确识别否则人眼无法检测到的缺陷。图像处理软件包包括几种图像处理工具，如二元化、平滑和不共享掩码。设备本身由高度先进和直观的图形用户界面（GUI）控制。GUI具有用户友好的菜单和简单的拖放功能,非常易于操作。此外,还可以构建可定制的模板和宏,以简化重复任务,并允许用户自定义诸如检查条件、蒙版设计规则和图像处理技术等参数。总体而言，METRICON 2010是一个先进的系统，配备了先进的光学和图像处理，自动化和友好的GUI。它的高分辨率相机、模式识别软件和图像处理包使它成为一个功能强大但成本效益高的掩模和晶圆应用检查单元。