二手 METRICON PC 2010 #9112670 待售

METRICON PC 2010是使用专利技术对半导体工业中的蒙版和晶片进行检测的蒙版和晶片检测设备。该系统是一个直接检测单元，利用激光干涉测量和数字成像在传统检测系统的一小部分时间内提供准确可靠的结果。METRICON PC-2010是一种高效、全自动的检测机,它可以在短短几分钟内处理整个掩模或晶片,从而显着减少人工检查的时间、成本和复杂性。该工具可以检测到口罩和晶片上的小缺陷，分辨率为0.3微米，小于口罩和晶片上典型缺陷的三分之一。它结合了先进的激光技术和高分辨率的数字成像来检查掩模或晶圆的每一个表面到一个像素。这使它能够检测和分类表面特征,包括划痕、凹坑、颠簸和其他不规则性。资产还使用专有软件快速准确地处理图像数据，使其能够以比传统检测系统快10倍的速度检测缺陷。软件还具有自动缺陷识别和分类功能，最大限度地减少了对缺陷进行人工分析的需要。该模型还具有用户友好的功能，如直观的图形用户界面，以及广泛的数据输出格式，允许用户自定义结果的呈现。除了效率和准确性之外,PC 2010还设计了易于使用和最小的维护。它不需要特殊的设置工具，操作直观直观。该设备还包括一个内置的测试模式库，可用于快速准确地分类缺陷。总之，PC-2010是一个强大而可靠的掩模和晶片检验系统，能够以高效和经济高效的方式处理大量的掩模和晶片。凭借其先进的激光和数字成像技术、高分辨率检测、直观的图形用户界面，METRICON PC 2010是半导体行业检验掩模和晶片的理想单元。