二手 METRICON PC 2010 #9244730 待售
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ID: 9244730
优质的: 2000
Prism coupler
Wafer measurement: Refractive index
Thickness: Thin films layer stack
Dual film measurements
Localization of modes in waveguides
Measurable refractive index: 2.45
Operating wavelength: 632.8 nm, 1320 nm & 1554 nm
2000 vintage.
METRICON PC 2010是一个自动化的蒙版和晶圆检查设备，设计用于检查高分辨率的光刻图像。该系统能够在扫描晶片时近乎实时地检测异常和其他缺陷。PC版本由于成本低，而且能够快速检测到各种各样的缺陷，因此在系列中最受欢迎。该单元的PC版本使用基于度量的扫描软件高速捕获晶圆的图像。这些图像是在3微米处拍摄的，允许识别甚至是最小的异常。软件还考虑到它所处的环境，以帮助确保准确的结果。该机器能够检测各种晶片缺陷，包括划痕、凹坑、颠簸和异物。它还可以检测低压信号，使工具能够检测可能导致芯片故障的问题。该资产除了具有高速度和精确度外,还具有低功耗的特点。这有助于降低运营成本,同时确保模型能够连续运行而不会中断。该设备设计得极其可靠，具有长期性能。它还具有直观的用户界面，让即使是最新手的用户也能在不占用太多时间的情况下迅速习惯系统。该单元的设计是为了与各种其他行业标准技术和软件包兼容，从而实现更大的可及性和更容易的集成。总体而言，METRICON PC-2010是检查先进平版图像的重要工具，提供快速和准确的结果。由于成本低、性能高，已成为口罩和晶圆检测的行业标准。
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