二手 METRICON PC 2010 #9245359 待售

METRICON PC 2010是由德国公司METRICON开发的掩模和晶圆检验设备。设计用于高精度检查标线、晶片或其他平面掩模，该系统可检测出污染、针孔、空隙、污渍、碎屑等细微缺陷。该单元配备了高分辨率和对比度的先进光学机器，提供卓越的成像性能。用于该工具的LED光源提供均匀稳定的照明,精度极佳。内置显示器提供易于使用的图形界面,并且多反射检测可确保高效和高效。METRICON PC-2010与各种数据分析软件程序兼容。这些程序可以检测各种缺陷类型,包括污垢和尘埃颗粒、划痕、污染、针孔、空隙、污渍、薄片以及厚度或外观的不规则性。资产还可以检查对齐标记中的错误对齐。PC 2010还配备了多种电气、机械、运动控制功能，适合高速、精确的扫描。该模型旨在减少操作员疲劳并提高效率。它还支持用于处理和评估结果的标准信令逻辑。设备可以扩展到包括新的功能，如测量色度坐标值的能力、点表扫描、高级模式识别，或用于机器人技术的特殊数据输出。此外,PC-2010可用于手动或自动分类系统。该系统非常适合应对科学和工业挑战。它可以提供有关掩模光学特性的信息，并提供半导体器件质量或颗粒污染的结果。它还提供了详细的图像分析的可能性，并且可以作为进一步的单元设计的基础。