二手 MICRO ENGINEERING LM 320 #9085607 待售

MICRO ENGINEERING LM 320是为检查应用特定标准产品（ASSP）使用的最复杂的光掩模和制造大面积IC而开发的先进的掩模和晶圆检测设备。该系统能够捕获光掩码和晶片的图像，这些图像可用于检测微小的缺陷，如颗粒、污染物和缺失的金属，以及可能导致故障的表面不规则。该装置配备了高性能的电荷耦合器件（CCD）相机和先进的光学器件,能够进行精确的视觉检查,并具有覆盖宽视野和微米大小特征的自动生成的光学参数和光场。该机器能够探测到小至1.0微米的粒子。它可以识别低至0.4微米的特征，并且具有1.2微米的可编程的最小特征大小。它还包括一个机动化阶段，以实现更快的扫描速度和更高的检查准确性。可以调整工具的视场以满足所需的分辨率,同时提供最佳图像。该资产在Windows环境中运行,使其在基本熟悉计算机的情况下易于控制。分析软件也是用户友好的,可以设置为运行常规检查并在需要时提供可行的反馈。该模型还包括一套完整的掩模和晶圆评估应用，如迭加、角力、反射率和粒子检查。这使得它适合广泛的检查和计量需要，而无需购买额外的软件。该软件是市场上最先进的掩模和晶片评估和检验包之一，提供了极其可靠的数据。设备能够检测到从很小到很大的各种缺陷，确保迅速准确地查明和解决任何潜在问题。LM 320是开发、制造和检验各类光掩模和晶片的宝贵工具。它能够快速扫描和评估来自最复杂的掩模和晶片的样品，使其成为参与组装、检查和制造光掩模和晶片的人的可靠和有效的解决方桉。