二手 MOLECULAR IMPRINTS Imprio 55 SFIL #9037906 待售

Imprio 55 SFIL是一种使用扫描电子显微镜（SEM）提供亚微米级缺陷检测精度的掩模和晶圆检测设备。它旨在检查刚性和弹性可变形基板上的预制图桉层和装置遮罩层。该系统提供自动化的无损成像，在晶圆级具有无与伦比的分辨率，从而能够在传统成像和光谱模式下准确识别和表征缺陷。Imprio 55包括一个高能SEM电子源，能够产生高达6 keV的束能。这为各种缺陷相关分析提供了更高的灵敏度，同时减少了整体颗粒/斑点大小。Imprio 55的像素速率高达每秒120万，允许在表面和横截面模式下快速累积图像和数据。Imprio 55的先进光学和成像能力将其与其他掩模和晶圆检查系统区分开来。例如，它提供了高度先进的虚拟低噪声成像，利用多个单色电子源和增强的极化。这给了它一个很好的分辨率和更精确的对比查明缺陷，无论其大小或位置在晶圆上。此外,Imprio 55独特的扫描控制功能使用户能够配置其设备以进行单站点或多站点检查。这样就不需要手动调整以实现所需的成像和缺陷检测功能。Imprio还包括自动模式识别技术,与手动技术相比,可实现更清晰、更快速的成像。结合其远程控制功能,Imprio 55使用户能够在远离机器的情况下监视操作。它还具有自动化的过程监测，可用于生产线监督和过程控制。最后,该工具附带了一系列功能强大的软件工具和功能,包括3D图像分析、直方图分析和特征识别。Imprio 55 SFIL from MOLECULAR IMPRINTS是一种可靠而强大的掩模和晶圆检测资产，旨在高精度检测和表征亚微米级缺陷。其先进的成像元件和自动化特性使其成为传统和可变形基板上生产线监控、过程控制和缺陷分析的理想工具。