二手 NANOMETRICS 210 XP #9185099 待售

NANOMETRICS 210 XP是一种高性能、自动化的掩模和晶片检查设备,可实现手动和自动化缺陷审查以及缺陷的快速分类。它提供了一个有效的解决方桉,以帮助确定由工艺变化引起的潜在产量限制缺陷。NANOMETRICS 210XP将自动缺陷识别与图像分析相结合,以快速识别、分析和分类缺陷,从而显着缩短掩码和晶圆产量的周期时间。其专有的图像识别软件、高分辨率成像系统和全面的检查规则为快速准确的缺陷识别提供了关键数据。210 XP结合了一套功能强大的软件工具,包括缺陷跟踪、图像分析和诊断。它的自动缺陷识别过程旨在快速识别潜在的产量限制缺陷,并根据类型、大小和形状对其进行分类。软件还为操作员提供了有关掩模和晶片布局的详细信息，并提供了对掩模或晶片中所有缺陷的全面总结。该设备的光学机器还配备了高性能的Abbe共聚焦轮廓检测器，为用户提供亚微米级分辨率，以及晶圆补偿阶段和视野，使用户能够同时查看整个晶圆。它为用户提供灵活的成像模式，允许检查各种结构，如模具、selvedge、颠簸和针孔。210XP为用户提供了对检查过程的特殊控制和灵活性。它可调的图像审阅参数使操作员能够轻松地将工具设置为满足其特定要求，资产的用户友好界面简化了数据审阅过程。NANOMETRICS 210 XP非常适合需要自动缺陷检测和分类的半导体制造商和研发设施。它为寻求更高检验和收益率的行业提供了可靠、高效的检验和缺陷管理解决方桉。