二手 NANOMETRICS 4150 #9188635 待售

NANOMETRICS 4150是一种最先进的掩模和晶圆检测设备，设计用于识别和分析半导体材料中的缺陷、污染物和非均匀性。该系统提供了增强的性能和创新功能，便于在骰子和蚀刻后快速、方便地监测口罩和晶片的质量。该装置采用独特的双法菲尔德干涉仪（DualFarfield Interferometer, DFI），在干涉仪的腔内结合了两束激光束。两个激光束沿着两个线性轴对齐，提供掩模或晶圆的3D图像。机器分析产生的图像，检测甚至在形状、大小和位置上的微小变化。4150工具使用其强大的软件，可以将当前晶圆或掩码与存储的参考进行比较，寻找任何污染物、锋利的边缘、裂纹和其他缺陷。资产还利用模式识别算法来分析和计算参考与当前模式之间的确切相关性。同时，先进的噪声过滤工具采用统计方法来降低噪声，如热漂移和电子噪声。该模型直观的用户界面允许用户轻松扫描掩码或晶片并实时检查结果。此外，该设备还提供一系列兼容的附件，便于精确的图像采集和高效的数据分析。这些包括高分辨率透镜、晶片卡口框架、自动表面板等等。NANOMETRICS 4150除了具有令人印象深刻的硬件和强大的软件外,还包含用户友好的文档,使用户可以轻松了解系统的功能并快速熟练掌握。凭借最佳的人体工程学和可靠的结果,4150是一个顶级设备,使用户能够确保精确的质量控制并确保最佳的设备产量。