二手 NANOMETRICS 7000-0435 #9292308 待售

NANOMETRICS 7000-0435 Mask&Wafer Inspection equipment是一种精密的机器,设计用于测量单个晶圆和Mask上集成电路的光学特性。该系统背后的技术提供高精度测量,具有快速的吞吐量和完整、全面的测量功能。7000-0435检测仪具有高分辨率双CCD摄像头,为各种测量程序（如迭加和CD计量）提供了必要的精度。用户友好的基于Windows的界面允许快速调整操作，允许快速处理晶片，而机器的模块化设计使得重新配置变得简单。NANOMETRICS 7000-0435还包括两个主要光头：一个具有自动对焦功能的低倍率光头，用于一般缺陷检测；一个带有电动变焦镜头的高倍率光头。可以将高放大倍率磁头设置为不同的级别,从而可以测量尺寸不超过10nm的受试者。与工具捆绑在一起的软件包包括各种程序，设计用于检测集成电路上可能存在的各种类型的缺陷。提供的缺陷检查包括：线缘粗糙度、点对点配准、平整度、散焦/模煳检测、透镜散光、舞台漂移和机器视觉缝合。此外,软件还包含图形显示,允许用户可视化检查过程的结果。7000-0435 Mask&Wafer Inspection资产是任何需要可靠、准确的工具来测量和确保集成电路质量的电子生产设施的理想解决方桉。此模型将以极好的准确性提供快速的结果,消除可能减慢生产速度的代价高昂的错误。此外，该设备用户友好，易于配置，使得重新配置快速和简单。