二手 NANOMETRICS 8000XSE #9384474 待售

NANOMETRICS 8000XSE是一种世界级的设备,专门用于掩模和晶圆检查,专为前端半导体工艺而设计。它采用最先进的光学、灵敏的线性级和超低噪声成像传感器来实现亚纳米精度。使用专利保护的专有算法,NANOMETRICS 8000 XSE可以快速可靠地检测和检查晶圆和掩模特征及缺陷。它采用先进的光学设计来消除振动,并采用专门的成像技术来提高灵敏度和速度。为进行掩模检查,8000XSE使用低噪声成像系统扫描整个暴露的晶片表面。它检查人眼看不到的边、角和其他异常，然后检查准确性和细胞保真度。它还可以在掩模定义区域中检查多达5 µm的临界尺寸特征。对于晶圆检查，8000 XSE使用相同的全景成像技术，但精度更高。它使用了一系列强大的算法来计算CD（临界维度）和OPC（光学接近校正）等重要参数。该装置能够检测到高达0.2µm的最深缺陷。对于掩模和晶片检查,NANOMETRICS 8000XSE提供了一个自动审阅过程,可以审阅和批准每张扫描的图像。它还提供了扫描图像的自动通过/失败分析,利用实时分析以及存储的参考图像。为了方便起见，可以通过直观的网页界面远程控制机器。此用户友好界面提供对所有相关数据、设置和扫描结果的实时访问。总之，NANOMETRICS 8000 XSE工具是一种专门用于半导体制造过程的前沿检测资产。它具有很高的精度、可靠性和速度，是寻求全面的掩模和晶圆检测模型的人的理想选择。