二手 NANOMETRICS 8300X #9219449 待售
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ID: 9219449
Film thickness analyzer
Wafer P/N:
7000-0519
7200-2161
7200-2193
J.A. WOOLLAM LPS-400
J.A. WOOLLAM M-44
KENSINGTON 25-3700-1125-04 Robot
TOSHIBA 1500 Series.
NANOMETRICS 8300X是由NANOMETRICS Incorporation开发的突破性掩模和晶圆检测系统.这种最先进的系统能够高精度地检查各种掩模和晶片特性。它为创造性的过程和产品开发应用程序提供最高级别的灵敏度、细节和分辨率。8300X设计具有高度灵活的体系结构,可以根据检查过程的需要进行调整。其模块化扫描仪可配置用于各种掩模和晶片类型,如背面蒙皮和溅射晶片。NANOMETRICS 8300X具有先进的特征检测技术,使其能够轻松检测和隔离复杂的形状和图桉。利用包括荧光、紫外线成像和标准成像在内的多光谱成像技术,8300X能够检查各种特征。其光谱成像技术允许寻路和特征检测,这对于成功的设计验证应用至关重要。它还提供了对线、矩形、圆等基本结构的精确测量。此外,NANOMETRICS 8300X还配备了多种功能强大的软件工具,用于过程控制、缺陷分析和报告。其过程控制功能包括自动缺陷分类、自动线宽测量、分级分析等。对于详细的缺陷分析,8300X有一套缺陷分析工具,包括粒子跟踪、特征大小分析和缺陷定位工具。最后,NANOMETRICS 8300X提供了全面的报告功能,使用户能够快速总结和可视化其掩码和晶圆检查过程的结果。总体而言,8300X为检查掩模和晶片特性提供了高水平的灵敏度、分辨率和准确性。凭借其先进的功能、缺陷和过程控制工具,以及全面的报告功能,它为生产性能评估、过程优化和快速设计验证提供了完美的解决方桉。
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