二手 NANOMETRICS AFT 210 #9083845 待售

NANOMETRICS AFT 210是一种先进的晶圆和掩模检测设备，设计用于检测和测量制造过程中的缺陷。该系统具有较大的工作区和局部控制计算机，是半导体器件制造的理想选择。AFT 210配备了先进的多点工具，一次最多可测量8个掩码级别。可以根据不同的检查参数调整每个掩码级别。这使设备能够检测从小污染物到大表面不规则的各种缺陷。NANOMETRICS AFT 210还利用一台水平光学机器来减少误报量。该工具能够分析来自掩模的图像以及样品晶片。此外，资产提供了有关检查过程状态的实时数据，使操作员更容易监控性能。为了最大限度地收集数据,AFT 210的检查模型包括一个自动化的3D成像设备。该系统使检查过程更加准确，产生更好的结果。此外,3 D成像单元允许机器检测极端详细的缺陷,从而使操作员能够更好地识别和测量缺陷。NANOMETRICS AFT 210还有一个自动缺陷审查工具。此资产允许操作员从掩码检查中快速查找和查看缺陷图像。审阅模型还能够比较来自多个晶片的结果，从而更容易快速检测可能发生的任何进程不一致。总而言之，AFT 210是一种极其精确和坚固的晶圆和掩模检测设备。它能够对口罩和晶片进行高度详细的检查，甚至检测到最小的缺陷。该系统还能够实时跟踪检查过程并进行自动缺陷审查。结合起来，这使得NANOMETRICS AFT 210成为在任何半导体制造过程中确保质量控制的理想工具。