二手 NANOMETRICS AFT 4000 #44869 待售

製造商
NANOMETRICS
模型
AFT 4000
ID: 44869
Measurement system Standard Film Types Measured Single Layer Films: Visible 500-50,000A; UV 25-500A Double Layer Films: Visible Top Layer 100-30,000A; Bottom Layer 100-10,000A Single Layer Thick Films: Visible 4-75 microns Reflectance: Visible 400-850nm Oxide on Poly: UV 150-10,000A Oxide on Metal: Visable 3,000-20,000A; UV 500-5,000 A.
NANOMETRICS AFT 4000是一种面罩和晶圆检查设备,设计用于对印刷电路板(PCB)等不透明基板的形状和尺寸进行可靠、准确和可重复的测量。该系统包括一个全自动的光学和机械扫描阶段,一个先进的远程中心光学单元,以及广泛的测量和分析软件工具。AFT 4000利用高分辨率成像来利用明暗场图像,从而能够以75 nm的分辨率测量小至15 nm的特征。扫描阶段配备了优化的光学器件,可以对不同的特征大小和形状进行高效的成像和可重复的测量。可选的机械臂允许手动和自动操作样品。NANOMETRICS AFT 4000利用各种先进技术,如散射法和荧光成像,捕捉目标材料的详细表示。AFT 4000还允许测量特征边缘、侧壁、台阶高度、轮廓和平整度。此外,机器还可以与信号处理系统连接,以便进行自动精确测量。集成在NANOMETRICS AFT 4000中的数据分析软件包包括生成3D几何模型以及导出CAD或测量系统的数据的功能。该软件还提供了可自定义的报告,包括可以清晰显示结果的表格和图像,以及比较来自多个扫描的数据的能力。该工具的总体设计侧重于最大限度地减少错误并产生可重复的结果。AFT 4000是实验室、工程师和科研人员的理想选择,因为它能够可靠地进行精确的物理测量和可靠的数据分析。该资产使操作员能够快速获取有价值的数据点,并在各种基板上生成一系列复杂的图像和模型。NANOMETRICS AFT 4000具有直观的用户界面、先进的测量能力和卓越的精度,是详细分析掩模和晶圆基板的绝佳选择。
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