二手 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8 #122833 待售
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ID: 122833
晶圆大小: 8"
优质的: 1998
Overlay metrology tools, 8"
KENSINGTON X,Y,Z Stage
Digital tape drive and 3 1/4 floppy drive
(2) MITSUBISHI Diamond scan monitors
UNIX Operating system
Objectives: 4X, 30X, 70X
Xenon lamp
SECS / GEM Interface
Ethernet connection
1998 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8掩模和晶圆检测设备是一种综合的掩模和晶圆检测系统,将高精度成像与基于软件的复杂缺陷分析和文档记录相结合。ACCENT Q7/Q8旨在方便快速高效地检查半导体制造过程中使用的光掩模,提供一流的性能和可靠性。该设备采用数字检测显微镜,具有卓越的成像和照明功能,可调节放大倍率和最大2000X的聚焦能力。这种先进的成像技术与先进的软件定义缺陷检测机相结合,能够识别各种IC缺陷,包括颗粒缺陷、模具缺陷和管线缺陷。BIO-RAD Q7/Q8具有一组实时硬式处理器和专用内存,可为光束和电子束成像应用提供卓越的速度和精度。NANOMETRICS Q7/Q8提供了一系列自动检查功能,包括用于全面覆盖的自动晶片缝合、用于精确缺陷识别的全面缺陷检查库,以及用于高度精确对齐的高级掩模可视化和编辑工具。该工具还支持业界领先的自动化缺陷检测和分析工具套件,包括颗粒缺陷分类、模块缺陷检查、参数缺陷分析和可选的高级平板检测选项。Q7/Q8与ACCENT Aleris Semiconductor Quality Control Asset无缝集成,允许缺陷审查过程完全自动化。Aleris Semiconductor提供了一个完全集成的缺陷审查框架,能够通过NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8模型快速审查、分析和报告晶片中发现的关键缺陷。通过集成到Aleris平台中,ACCENT Q7/Q8确保所有已检查的掩码和晶圆数据都可随时获得,以便进一步查看。总体而言,BIO-RAD Q7/Q8掩模和晶片检测设备为半导体行业的掩模和晶片检测提供了卓越的性能和可靠性。其先进的成像和检测功能,加上易于集成到Aleris半导体质量控制系统中,增强了对掩模质量的信心,并确保快速找到和审查关键缺陷。
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