二手 NANOMETRICS M-215 #9226306 待售

NANOMETRICS M-215是一种自动掩模/晶圆检查设备,它为任何二维不透明表面提供经济高效且可靠的检查解决方桉。该系统提供了一套全面的检测和缺陷检测参数，包括以下特点：对同一区域进行多瓦检测，以提高可靠性。高速扫描速度高达0.5 Gigapixel/秒。从0.1um到50um的缺陷的全面缺陷检测。自动校准例程,以确保结果的高可靠性。环境稳定,温度稳定,稳定性提高.灵活的功能集,包括自动缺陷检测、自动蒙太奇、自动缺陷分类、3D注册和高级模式识别。具有多种显示选项的综合分析参数。独立于应用程序的平台,易于集成自定义应用程序。M-215单元设计用于半导体和MEMS行业,用于检查12英寸大小的图样晶片和掩模。掩模/晶片检查单元包括一个狭缝扫描头、一个成像板和一个可选的任务应用模块、一个控制器单元和一台接口笔记本电脑。缝隙扫描头可提供高达每秒0.5吉像素的高速图像采集,而成像板可确保均匀的图像强度。可选的任务应用程序模块使用户能够为检查算法定义各种参数。还提供了自动校准程序，以确保从多次检查中获得一致和可靠的结果。控制器单元提供了用户笔记本电脑和掩模/晶圆检测机之间的接口。此外,接口笔记本电脑还提供了多种功能,可用于分析和查看工具捕获的数据。总之，NANOMETRICS M-215是一种经济高效、可靠的掩模和晶圆检测资产，提供了一套全面的检测和缺陷检测参数。它对同一区域进行的多层检查、快速扫描速度、自动校准例程和灵活性,能够快速准确地检测任何二维不透明表面的缺陷。它是半导体和MEMS行业的理想选择。