二手 NANOMETRICS Nano 215S #9226644 待售

NANOMETRICS Nano 215S是一种使用三维（3D）成像技术的高性能掩模和晶圆检测设备。它专为半导体IC器件的生产过程而设计,具有多个样本视图摄像机和强大的LED光源,能够对缺陷和特性进行精确的高速3D成像。纳米215S还包括一个高速外部视觉系统，能够捕捉和分析大的缺陷大小。这种掩模和晶圆检测技术非常可靠，提供了1米分辨率缺陷的详细三维成像。这样可以在检查掩模和晶片缺陷时提高准确性和可重复性。其集成的缺陷验证和预分析软件提高了洞察力的时间,而直观的用户界面增强了工作流程。除了精密的3D成像外，NANOMETRICS Nano 215S还具有宽视场（FOV）相机，可让更大的覆盖范围观察和快速检测大于1毫米的缺陷。纳米215S还具有提高采样速度和精度的多波长检测单元。其他功能包括允许同时捕获多个数据流的异步观测机，以及提供对不同信息进行自适应聚焦的自动对焦工具。NANOMETRICS Nano 215S提供晶圆和掩模CD-SEM性能。它能够表征和测量不同材料上各种缺陷的大小。它提供对这些不同缺陷的实时分析和检测，同时采用光学和扫描电子显微镜（SEM）策略进行即时分析。纳米215S具有自动化晶片操作工具和自动采样功能，允许统一的晶片采样和处理。该资产可定制以匹配特定于其使用的应用程序,并且可以与第三方计算机连接以连接工作流。其高速成像可提高吞吐量,从而加快扫描和分析任务的执行速度。NANOMETRICS NANO NANO 215S是一种经济高效且高性能的掩模和晶圆检测模型,可提供更快的缺陷检测和表征,并具有更高的精度。其强大的3D成像能力结合宽广的FOV摄像头和多波长检测设备，提高了缺陷分析的准确性和可重复性，使用户能够快速准确高效地确定和修复问题。