二手 NANOMETRICS NANOLINE CD 50 #9166570 待售

NANOMETRICS NANOLINE CD 50是为满足先进半导体生产线需求而设计的下一代口罩和晶圆检测设备。该系统是根据光学、传感器、成像和自动化方面的最新进展而开发的,能够为各种应用提供快速、可靠和准确的检查和计量。从基本架构来看，NANOLINE CD 50是一个全自动化、PC控制、自成一体的检测站，配备了最先进的蔡司光学显微镜、Relion微处理器和工业机器人。工业级线性级使晶片的定位能够高精度，使设备能够精确扫描每台设备。此外,该机器还能够对直径最大为5英寸的晶片进行成像,一次最多可成像四个基板,每小时最多可成像40个基板。该工具的高级成像组件确保对设备进行高分辨率检查。蔡司显微镜配备了14mm x 10mm的视野，提供了73 nm像素大小的图像。增强的CCD相机同时捕捉晶片图像，分辨率高达4800万像素，产生极高的图像质量。NANOMETRICS NANOLINE CD 50的影像分析算法是基于特徵识别、影像分割与分类、色彩、对比度分析。该资产还能够进行先进的模式识别和特征分类，从而能够准确检查诸如vias、contact和其他纳米级结构等复杂模式。为了提高效率,可以将NANOLINE CD 50集成到更大的自动化模型中。此外，设备能够与其他系统或设备通信，通过互联网或其他网络传输数据和结果。该系统与包括Windows、Linux、Mac OS X在内的多种操作系统兼容，总体而言，NANOMETRICS NANOLINE CD 50是一种高度先进、精密的掩模和晶圆检测单元，旨在为先进的半导体生产提供准确、快速、可靠的检测和计量。从其最先进的蔡司显微镜，到其精密的图像分析算法，以及与价值链自动化的兼容性，NANOLINE CD 50对于任何需要可靠准确的掩模和晶圆检查的应用来说，都是一个优越的解决方桉。