二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #114973 待售

ID: 114973
晶圆大小: 6"
Film thickness measurement system, up to 6" Measures 100 to 500,000 Angstroms Laptop upgrade.
NANOMETRICS NanoSpec 210是一种掩模和晶片检查设备,设计用于监测光掩模和晶片的表面地形。NANOMETRICS NANO SPEC 210利用扫描隧道显微镜的最新技术,为表面提供精确的三维成像,用于缺陷检测和表征。其光学系统被设计为产生遮罩和晶圆表面的高分辨率图像。NanoSpec 210由一个带有四个石英级的样品室组成,用于定位和扫描。前两级用于将样品装入腔室并定位扫描探针。接下来的两个阶段用探针扫描样品。样品室有三个光学窗口,一个用于样品,两个用于图像捕获。NANO SPEC 210装有高解析度的扫描隧道显微镜(STM)单元,以捕捉蒙版和晶圆表面的高解析度影像。机器使用尖端极小的探针在样品表面移动,生成高分辨率图像。NANOMETRICS NanoSpec 210具有板载控制工具,允许用户控制STM扫描仪的速度、方向和功率。NANOMETRICS NANO SPEC 210具有内置功能,可改进对掩模和晶片表面缺陷的检测。它具有用于缺陷自动检测的模式识别算法。该资产还具有多种图像处理和过滤功能,帮助用户分析图像并检测缺陷。NanoSpec 210是用于掩模和晶圆检查的有效工具。它的功能使用户能够快速、轻松地监控掩模和晶片的表面地形,以便检测和描述缺陷。其自动检测算法和图像处理能力旨在提高缺陷检测和表征的可靠性和准确性。NANO SPEC 210是监视和分析掩模和晶片表面的有效工具。
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