二手 NANOMETRICS NanoSpec 210 #9105587 待售

NANOMETRICS NanoSpec 210是设计用于半导体制造的创新面罩和晶圆检测设备。此工具提供了多种功能,旨在实现产品的快速、高效和准确的测试和检查。该系统能够对缺陷进行非接触式测量，提供各种尺寸缺陷的高分辨率图像。NANOMETRICS NANO SPEC 210配备了最新技术，包括高精度的XYZ级，允许遍历过图桉，以精确测量各种参数，如特征尺寸、位置精度、线缘粗糙度等。此外,该单元还包括HiScan™,这是一个独特的成像机器,具有暗场差分成像功能,能够检测非常小的缺陷。该工具还包括一个集成的激光源和RSTM™成像，它可以改进对粒子、包括在场中的粒子以及其他系统可能遗漏的亚微米缺陷的缺陷识别。NanoSpec 210还具有ALIGN™功能,这是一种软件驱动的对齐资产,可帮助确保在测试开始之前将被测试的设备完全对齐。此外,该模型还配备了预编程成像和测量设置库,可轻松配置用于各种实验和测试。NANO SPEC 210还提供板载处理,这意味着用户无需额外硬件即可启动、查看、保存和分析结果。设备能够实时显示结果,从而在制造过程中缩短周转时间。最后，NANOMETRICS NanoSpec 210附有直观的图形使用者介面，更容易控制各种系统功能。此用户界面还包括用于自定义设置以匹配单个用户首选项的选项。总体而言,NANOMETRICS NANO SPEC 210是一种先进的掩模和晶圆检测装置,有助于确保生产出质量最高的半导体元件。该机具有HiScan™、ALIGN™、RSTM™等多种特点，使其成为可靠、准确的检测分析装置。