二手 NANOMETRICS NanoSpec 212 #9198403 待售

NANOMETRICS NanoSpec 212是一种先进的掩模和晶圆检验设备，用于测试半导体微芯片和其他电子元件。是一种结合非接触式光学显微镜、激光干涉测量和高分辨率成像，精确测量和可视化微米级和纳米级特征尺寸、薄膜厚度等质量参数的二维检测系统。该单元配备了几种检测解决方桉，包括2轴和3轴激光干涉仪、非接触式光学显微镜以及可变角度图像捕获和分析。2轴干涉仪有一个可见光源，能够有多种成像分辨率，范围从0.5微米到5.0微米。3轴干涉仪提供0.5至30.0微米的成像分辨率,专为3D成像和测量表面纹理、地形及其他表面参数而设计。光学显微镜提供0.1至10.0微米的成像分辨率，适用于小几何细节成像。可变角度图像捕捉机是通过调整图像捕捉角度来提高成像精度和图像清晰度的。NanoSpec 212专为方便操作而设计,可实时提供用户反馈。它包括一个明亮、全彩色的触摸屏显示屏，提供高分辨率的图形图像显示屏。此外,此工具还具有许多自动化功能,这些功能消除了与掩模/晶圆检查相关的大量体力劳动。例如,自动对焦控制和自动缺陷标记等功能可提高生产效率和节省时间。总体而言,NANOMETRICS NanoSpec 212是一种功能强大且可靠的掩模和晶圆检查资产,它提供高分辨率成像、激光干涉测量和其他检查解决方桉,并有助于对微芯片和电子元件进行高精度和高效率的检查。