二手 NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE #9096765 待售

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ID: 9096765
晶圆大小: 8"
优质的: 1998
Thin film measurement system, 8" Cassette to cassette Ellipsometer: J.A. Woolham M44 Operating system: IBM OS Light source: LPS-300, 75W EC 270 Pre-aligner: 5" - 8" 115V, 5A, 30/60Hz. 1998 vintage.
NANOMETRICS NANOSPEC 8000XSE是一种顶级的掩模和晶圆检测设备,能够执行大量高精度任务。可用于精确测量各种集成电路(IC)元件的金属层、金属平面、接触通气和重迭边界。系统使用非常小的光学元件,以纳米级尺度测量。这些组件允许对IC组件进行极其精确的测量,并提供可用的最精确的测量。NANOMETRICS NANOSPEC 8000X SE由于其强大的显微镜,能够以非常高的分辨率实时成像。这使它能够以更高的精度渲染图像,并使设备能够在几秒钟内以较高的精度比较多种类型的样本曲面。它还使用强大的算法快速识别微观表面特征,并且可以检测样品中的异常变化或任何缺陷。NANOSPEC 8000 XSE的其他功能包括可定制的光学级、软件控制的自动对焦和自动对准。光学级能够通过许多角度和高度进行操作,从而能够非常精确地测量样品的不同部分。软件控制的自动对焦可以进行极其精确的聚焦调整,以获得最详细的测量结果。自动对准机还能够将样品精确定位在显微镜下进行最佳成像。NANOSPEC 8000XSE还具有直观的图形用户界面,允许用户轻松创建最适合自己需求的工作流程。它包括一个先进的光学成像库,具有广泛的样本类型和参数,使工具能够精确地测量和评估各种IC组件。鉴于NANOSPEC 8000X SE的特点和功能,很容易理解为什么NANOSPEC SE是最可靠、最精确的掩模和晶圆检测系统之一。凭借其精密和先进的软件,它可以提供出色的测量,并有助于确保集成电路正常运行。这使得它成为使用IC或其他技术先进组件的公司不可或缺的工具。
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