二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 180 #9226130 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 180
ID: 9226130
晶圆大小: 6"
Thickness measurement system, 6".
NANOMETRICS NanoSpec AFT 180是先进的掩模和晶圆检测设备。该系统提供全自动、准确、高对比度的缺陷检测解决方桉,能够识别半导体器件中的微小缺陷。这个晶片和掩模检查单元有一个计算机控制的阶段,能够在三个方向上移动,使它能够从各种各样的掩模和晶片大小收集数据。利用先进的成像算法,该机器能够扫描到掩模或晶片材料深达180 μ m的地方,以检测是否存在缺陷和异常,以及是否有偏离掩模或晶片设计的情况。该工具还能够检测多级图桉和光掩模缺陷,是精密工作的绝佳选择。使用此资产可以捕获的高分辨率数字图像使工程师能够诊断和纠正制造错误。NanoSpec AFT 180还具有增强的分辨率模式,它允许模型对蒙版上的特征和缺陷成像到50 nm。它还具有高速模式,能够快速扫描大型物体,实时检查多达10微米的特征。设备还提供多个数据集,如自动对焦、放大倍率、聚焦深度和缝合。此外,这个系统还有一个用户友好界面,旨在让用户更容易浏览和使用设备的功能。它采用故障安全机制构建,有助于确保机器能够长时间运行而不会中断。该工具还配备了先进的热管理资产,以确保检查过程的热效应最小。总体而言,NANOMETRICS NanoSpec AFT 180是一种先进的高性能掩模和晶圆检测模型。它可靠、准确,是寻求高级掩模和晶圆检测解决方桉的组织的理想选择。
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