二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 200 #9386650 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 200是一种掩模和晶片检验设备，使用先进的自动化技术来完全检查掩模和晶片表面的两侧，以及晶片的边缘。这个系统设计用来检测任何可能存在于结构中的微观缺陷，如很小的颗粒、凹坑、结核和表面空隙。利用现场可编程栅极阵列（FPGA）准确检测和识别晶圆和掩模表面的缺陷。该过程的第一步是在真空环境中将晶片和掩模转移到AFT 200检测阶段。这样可以确保灰尘和其他杂质从环境和晶圆和掩模表面清除。该阶段包括高分辨率成像和非成像检测单元。成像子系统使用高分辨率数码相机在掩模和晶圆表面上捕获多个图像。非成像检测子系统使用激光光束轮廓扫描技术来检测掩模和晶圆表面上可能存在的任何缺陷。利用激光束利用特殊成像技术检测缺陷剖面，然后对其进行处理和分析，以识别表面的任何缺陷。AFT 200捕获的图像存储在其内存中,并使用专有的图像分析技术进行分析。将图像与检查前创建的设计文件进行比较,并检测和报告任何差异。这允许设备检测可能存在的任何缺陷或异常。NanoSpec AFT 200机器能够进行非常可靠和准确的缺陷检测,甚至可以检测到掩模和晶圆两侧存在的细微缺陷。该工具为用户提供了有关检测到的任何缺陷的详细报告,使他们能够准确识别和修复可能存在的任何问题。该资产还可用于分析产量数据,为制造过程提供有价值的见解。该模型还被设计为高度人性化，可由操作员轻松编程以运行和监控整个检查过程。该设备可用于快速检查和分析晶片和掩模样品，使用户能够快速识别和解决任何可能的缺陷问题。此外,该系统非常灵活,可以轻松地与其他自动化系统集成。这允许用户将AFT 200集成到任何生产环境中，并迅速实现其全部潜力。总体而言,NANOMETRICS NanoSPEC AFT 200是一个理想的掩模和晶圆检查单元,适合希望识别和解决掩模或晶圆表面上可能存在的任何缺陷问题的用户。它的高级自动化技术提供了关于任何检测到的缺陷的准确、可靠和详细的报告,使用户能够快速识别和解决可能存在的任何问题。此外，机器的灵活性和易用性使得它成为任何自动检查过程的绝佳选择。