二手 NANOMETRICS NanoSpec AFT 210 #9197542 待售

NANOMETRICS NanoSpec AFT 210是一款先进的掩模和晶圆检测设备,旨在为半导体制造商提供高分辨率的检测和缺陷定位能力。该系统旨在检测和检查蒙版和晶片上其他成像技术可能看不到的缺陷。该装置利用先进的假色和光子波长探测器，允许用户在掩模和晶片上查看复杂图样的微小细节。假色机便于检测非常小的缺陷，而光子波长检测器将识别由缺陷产生的跃迁或模式。此工具还以完全参考模式运行,为缺陷检测提供更高的分辨率。此外,NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210还可与电子束或X射线等其他非成像方法结合使用,以实现更先进的检测能力。NanoSpec AFT 210还具有先进的成像资产,允许用户研究从不同角度获得的图像,从而能够对缺陷进行深入分析。该模型采用光学和/或扫描电子显微镜等复杂成像技术，允许以更高的精度识别缺陷。NANOSPEC/AFT 210具有内置的数据分析软件设备,能够快速处理图像和数据。它还设计用于高效的数据共享,可以跨网络进行,也可以直接连接到PC或服务器。此外,该系统还具有直观和用户友好的图形用户界面,允许用户快速轻松地访问数据,而无需进行广泛的培训。该装置设计为既可靠又易于维护，因为它是使用高质量的部件制造的，几乎没有活动部件。这样可以确保准确和可重复的结果,并增强机器的稳定性和寿命。NANOMETRICS NanoSpec AFT 210还设计用于快速、轻松的设置和配置,使用户能够快速、轻松地实现最佳的工作设置。总而言之，NANOMETRICS NANOSPEC/AFT 210是一种先进、可靠、用户友好的掩模和晶圆检测工具。其高分辨率成像能力，加上高效的数据分析软件，确保了快速准确的结果。无论是单独使用还是与其他成像技术结合使用，这一资产都非常适合半导体制造商和其他需要精确、全面的掩模和晶圆检查的应用。